该仪器适用于光化学、高分子材料老化、探伤、紫外光源、植物栽培、大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作

2. 主要技术指标
　　 （1） UV365 探头：
　　 λ：320~400 nm; λp=365 nm 
　　 （2） UV420 探头： 
　　 λ：320~500 nm; λp=420 nm 
　　 ＊辐照度测量范围： 
　　 0.1~1.999×10^5 μw/cm2 
　　 ＊紫外带外区杂光： 
　　 UV365: 小于0.02%； 
　　 UV420: 小于0.02% 
　　 ＊余弦特性：符合国家二级光照度计标准 
　　 ＊准确度： ±5% （相对于国家标准） 
　　 ＊响应时间：1秒 
　　 ＊使用环境：温度20±20℃；湿度 ＜85% 
　　 ＊尺寸和重量：180×80×36mm3; 0.2kg