朗格langer MV-Technik工具E1
Langer EMV-Technik处于EMC领域的研究，开发和生产的*前沿。通过EMC实验研讨会和EMC研讨会，我们为客户提供了全面的知识。

我们的 干扰发射 和 抗干扰性 EMC测量技术以及IC测试系统主要用于开发阶段，并且在全球范围内都有需求。

产品展示
PCB抗扰度
测量系统和EMC工具，用于进行组件和设备的抗扰性测试和分析
PCB发射
在开发阶段用于组件和设备排放分析的测量系统和EMC工具
测量和校准站
测量和校准站用于校准EMC测量仪器并确定连接器的EMC参数。
教学与培训测量技术
EMC实验的模型装配
IC测量技术
借助IC（集成电路）测试系统，开发人员可以在特定干扰（传导和辐射）或其辐射期间测试电路的行为。该IC在运行中经过了测试。
 
E1是一组EMC工具，用于在开发阶段抑制印刷电路板中的EMI。开发人员可以使用E1集快速识别突发和ESD干扰的原因。这使开发人员可以设计适当的措施来解决干扰的原因。它也可以用来测试所采取措施的有效性。E1测试装置很小，可轻松安装在开发人员的桌子上。E1集用户手册介绍了EMC机制，并详细描述了用于抑制印刷电路板中干扰的基本测量策略。E1集包括一个发生器，用于产生突发和ESD干扰。
供货范围

• 1倍SGZ 21，脉冲发生器
• 1倍S21，光学传感器（10 Mbps）
• 1倍BS 02，磁场源
• 1倍BS 04DB，磁场源
• 1倍BS 05D，磁场源
• 1倍BS 05DU，磁场源
• 1倍ES 00，电场源
• 1倍ES 01，电场源
• 1倍ES 02，电场源
• 1倍ES 05D，电场源
• 1倍ES 08D，电场源
• 1倍MS 02，磁场探头
• 1倍E1 acc，配件
• 1倍NT FRI EU，电源装置
• 1倍E1案例，系统案例
• 1倍E1 m，E1设置用户手册

P1 set
P23 set
P11t set
P12t set
CAN 100 set
CAN 100 A01 set
LIN 100 set
BD 11
BD 06B
BD 01B
BD 01E
ESA1 set
HFW 21 set
Z23-1 set
Z23-2 set
NNB 21 set
PA 203 SMA套件
PA 303 BNC套件
PA 303 SMA套件
PA 303 N套
PA 306 SMA套
ICS 105
FLS 106 IC
FLS 106 PCB
SUH 106
LF1
MFA-K 0.1-12 set
A100-1 set
XF-R 100-1
迷你突发场发生器特别小。它们用于在开发阶段识别和消除电子装配中的薄弱环节。它们会在其尖端产生脉冲串或ESD场。微型脉冲发生器用手在其被测设备（例如印刷电路板）上靠近其表面的方向上引导。弱点会响应脉冲场，并且会发生故障。突发场发生器可以应用于电路板设计的选定单个部分，以识别潜在的弱点（接地系统中的故障，单个走线或IC引脚）。分开的磁耦合（P11和P12）和电耦合（P21）允许针对相应的弱点*佳地调整EMC对策。
供货范围

• 1倍P11，迷你爆发场发生器（B）
• 1倍P12，迷你爆发场发生器（B）
• 1倍P21，迷你爆发场发生器（E）
• 1倍P1机壳，Mini Burst Field Generators机壳
• 1倍P1 m，P1设置用户手册
• 朗格langer MV-Technik工具E1