美国HVI(美高测)VLF-60E0.1Hz超低频交流耐压测试仪

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北京丰台区

北京康高特仪器设备有限公司

13年

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产品参数

美国HVI(美高测) VLF-65E 0.1Hz超低频交流耐压测试仪

美国(美高测)HVI VLF-65E 0.1Hz超低频交流耐压测试仪由*代理，本产品采用*新的电子设计，具备全自动、可编程操作、数据采集和报告功能，以及现成的介损测试仪。现在***中，如需购买VLF-65E VLF超低频耐压测试仪，可通过的客服热线联系我们！

美国(美高测)HVI VLF-65E 0.1Hz超低频交流耐压测试仪简介：
?HVI VLF-65E采用*新的电子设计，具备全自动、可编程操作、数据采集和报告功能，以及现成的介损测试仪，可通过定制软件实现***无线控制
?HVI VLF-65E是目前超低频界*好的产品
?HVI VLF-65E可选择配备美高测设计的介损测试配件，局部放电探测可选配件。
?VLF-65E输出电压： 0 – 65 kVac（峰值），正弦型0.5 μF – 5.0 μF, 0.1 Hz – 0.01 Hz
?VLF-65E输出频率：0.1-0.01Hz
?VLF-65E负载电容：5μF
?VLF-65E符合IEEE400.2,IEEE433,VDE 0276, CENELEC等***
?VLF-65E超低频测试仪用于进行简单的是/否或通过/失败耐压测试
?VLF-65E超低频测试仪还能用作离线电缆诊断局部放电测试和介损测试的电压源。

美国(美高测)HVI VLF-65E 0.1Hz超低频交流耐压测试仪参数：

Input	100 - 265Vac, 50/60Hz, 20A max
Output	VLF Sinewave: 0 - 65kVPeak (46kVrms), resolution: ±0.1kV
	VLF Squarewave: 0 - 65kVPeak, resolution: ±0.1kV
	DC: ±0 - 65kV (Proof Test, Sheath Test), resolution: ±0.1kV
Duty	Continuous
Load Rating	1.0uF @ 0.1hZ @ 65kVp, 10.0uF @ 0.01Hz @ 65kVp, calculated 6.5kVpuFHz uF rating increases at lower voltages, Ex: 1.4uF @ 0.1Hz @ 47kVp
Frequency	0.01 to 0.1Hz in 0.01Hz Increments, auto-frequency detect
Metering	5.7” Color LCD display
	Voltage (kVp/kVrms): ±1% accuracy, 0.001kV resolution
	Current (mAp/mArms): ±1% accuracy, 0.001mA resolution
	Calculated: Capacitance, Resistance, Flashover Voltage, and Time to Failure
Fault Response	Fault on Arc and Burn on Arc
Memory	Internal: 50 test records/External (USB Drive): Limited by media capacity
PC Interface	External USB (Firmware Upgrade Only)/XBee 802.15.4 (wireless, ~30ft range)
PC Software	E-Link remote control and report generation software
Cable Lengths	20’/6m flexible x-ray, 20’/6m ground #2, 20’/6m test leads #10,ground hook, line cord
Size	22”/559mm x 15.5”/369mm x 26”/660mm
Weight	150 lb, 68 kg

品牌：	美国HVI(美高测)
型号：	VLF-60E
加工定制：	否
外形尺寸：	559 x 369 x 660mm mm
重量：	68 kg
电源电压：	110-230 v
测量范围：	0-46kVrms
用途：	用于电缆主绝缘耐压测试