我司主要代理日本J-RAS离子迁移设备、低阻测试仪、HITACHI 恒温恒湿、冷热冲击试验箱、快速温变箱、HAST等设备，参与了多个大型PCB中央实验室、第三方检测机构等众多设备投标、建设。

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离子污染测试仪

                                                                                                型号：CJ-LZ-20

一、产品用途：

离子污染测试仪，主要用于：印制电路板、电子元器件、电路板组装后成品，电子电气设备等表面离子浓度测试。

二、产品特点：

2.1测量范围：10cm×10cm ～70cm×350cm。

2.2测量精度：±5%。

2.3测试方法：静态。

2.4加热装置：220V/2500W加热棒。

2.5数据控制模式：COM端口RS232通讯。

2.6测试萃取液体的配比和容积：3（异丙醇）：1（去离子水） 17L。

三、动/静态运行流程：

                     测试步骤—静态

四、设备主要技术指标：

4.1.环境要求： 

4.1.1温度：22℃±2℃；相对湿度：50％±20％RH；大气压力：常压；

4.1.2电源要求：AC220V 50HZ  15A；接地方面：需配备独立的接地线，接地电压小于0.3 V；

4.1.3尘埃级别：一般较为干净的环境；禁止酸、碱、或腐蚀性气体或液体接触仪器；

4.1.4.标准溶液的检查（可通过比重计测量萃取液比重为 0.85～0.855     ）

4.2.测试状态：

4.2.1静态：2ml标准液（标配Nacl）等价质量1200±5%

4.2.3样板大小范围,≤35*70cm（4500cm²）

4.3测试性能

4.3.1测试中能实时显示电导率与离子浓度及耗时曲线

4.3.2测试过程中温度能够恒温在40±2℃

4.4效率

4.4.1静态：测试过程2ml标准液≤ 5min测试结果趋于平稳

4.4.2再生过程2ml标准液过滤至0.015us/cm²≤5min

4.4.3升温过程至40±2℃≤20min

4.5结果与输出

4.5.1试完成自动弹出保存结果.测试报告含电导率，离子浓度，测试时间等详细信息实时曲线显示。

五、设备参数：

标准配置清单