利特斯 CCD全谱直读光谱分析仪 SZ-WL15A
CCD图像传感器可直接将光学信号转换为模拟电流信号，电流信号经过放大和模数转换，实现图像的获取、存储、传输、处理和复现。
特点：
1、体积小重量轻。
2、功耗小，工作电压低，抗冲击与震动，性能稳定，寿命长。
3、灵敏度高，噪声低，动态范围大。
4、响应速度快，有自扫描功能，图像畸变小，无残像。
5、应用超大规模集成电路工艺技术生产，像素集成度高，尺寸精确，商品化生产成本低。
应用领域有军事领域、摄像领域、生产自动化、光学信息处理等领域。
SZ-WL15A 桌面上的金属分析仪 体积小巧，且具有超高的性价比。
我们的光谱仪旨在完成快速而可靠的样品检测。新一代leetes先进的光谱分析技术，30年光谱仪研发制造经验、技术创新和售后服务，为每一台光谱仪用户提供可靠的材料分析方案。
WL15A 提供快速、稳定和精确的分析以实现完美样品检测要求。 它是一台功能强大且*可靠的光谱仪，光学系统采用CCD检测器，在部分领域可以媲美经典光电倍增管式的光谱仪。
分析的材料类型 全面的分析程序可供选择，适用于所有金属及其合金，
包括：铸铁、铁、钢铝、铜、镁、镍、铅、锡、钴、钛
光学系统 :
全谱平场光学系统，波长可选范围：130-1100nm
检测器 :
(紫外区)采用高性能滨松（HAMAMATSU）背照式CCD检测器
开放式激发台，适用于分析不同几何形状的大样品，采用双气路氩气冲洗电极模式大大节约氩气，热交换设计，无需水冷，易于清理维护；
火花激发系统 :
激发误差 是直读光谱分析中主要误差，对火花激发系统中光源的稳定性要求异常严格。WL15A采用全频数字双脉冲激发光源，可变频（100-1000Hz）激发技术。
具有以下特点：
激发电路中无电阻部件，不发热，提高热稳定性低压火花放电，增加系统可靠性减少维护保养，仅需清洗激发电极
1.分析准确度高，时间快
2.体积小、重量轻
3.高度集成化、高可靠性
4.数据分析稳定、快速
5.全谱检测，通道不受限
6.操作简单
7.分析模式
核心原理图：
CCD的优势 ：
windows系统下全中文操作界面，有多种语言模式一键激发
即可获取数据内置自我诊断系统
自动处理结果，10-30S 完成样品分析
预装金属牌号，能快速鉴定。可自由选择分析模式、
配置分析曲线，也可根据应用需求优化参数。
- 连接激发光源
- 狭缝
- 滤镜
- 准直镜
- 光栅
- 聚焦镜
- 带滤光片的检测器
- 背照式CCD检测器
应用领域
冶金、铸造、机械加工、炉前化验、科研、商检、汽车、石化、造船、电力、航空航天、核电、兵器
检测范围
铁基、铜基、铝基、镍基、钴基、镁基、钛基、锌基、铅基、锡基、银基 等。
利特斯 CCD全谱直读光谱分析仪 SZ-WL15A
直读光谱仪技术方案 仪器技术参数表格
| 项目 |
参数描述 |
| 检测应用 |
金属基体合金的成分测量 |
| 光学系统 |
全谱光学系统 |
| 波长范围 |
130～1100nm |
| 光源类型 |
全频数字双脉冲激发光源，可变频（100-1000Hz）激发技术 |
| 检测器 |
CCD检测器，(紫外区)采用高性能滨松（HAMAMATSU）背照式CCD检测器 |
| 电极 |
采用双气路氩气冲洗电极模式 |
| 数据采集读出系统 |
高速16位ADC模数转换，DSP数字信号控制器，工业USB数据采集（100KHz/s），单火花脉冲数据采集，可用于酸溶铝和酸不溶铝检测。 |
| 分析软件 |
全中文windows系统下运行分析软件，设置分析参数，激发、冲洗、予燃爆光时间选择，自动完成 |
| 工作电源 |
（220±20）V AC，（50±1）Hz，保护性接地的单相电源 |
| 工作温度 |
(10～30)℃ |
| 存储温度 |
(0～45)℃ |
| 工作湿度 |
20％～80％ |
| 氩气纯度要求 |
99.999% |
| 氩气进口压力 |
0.5Mpa |
| 氩气流量 |
激发流量约（3-6）L/min，维持流量约（0-0.5）L/min |
| 激发*大功率 |
500VA |
| 激发台孔径 |
12mm |
| 样品台 |
火花台尺寸为120x120mm ，放电室特殊设计，双脉冲火花放电，十分便于激发和省氩气，激发电极为钨电极或银电极。 |
| 尺寸 |
外形尺寸:684×584×350mm |
| 重量 |
45kg |
标配供货范围
| 内容描述 |
数量 |
| SZ-WL15A 全谱直读光谱仪主机 |
1台 |
| 分析基体 |
1个 |
| 工作曲线 |
2套 |
| 数据处理系统（光谱仪内置） |
1套 |
| 分析及校准软件（U盘） |
1套 |
| 计算机（联想） |
1套 |
| 打印机（HP） |
1台 |
| 高低标 |
2个 |
| 减压阀 |
1套 |
| 电极刷 |
1个 |
| 过滤器 |
1个 |
| 用户手册（仪器使用说明书） |
1份 |
CCD 原理及发展应用
CCD 是指电荷耦合器件，是一种用电荷量表示信号大小，用耦合方式传输信号的探测元件，具有自扫描、感受波谱范围宽、畸变小、体积小、重量轻、系统噪声低、功耗小、寿命长、可靠性高等—系列优点，并可做成集成度非常高的组合件。
电荷耦合器件(CCD)是20世纪70年代初发展起来的一种新型半导体器件。
CCD是于1969年由美国贝尔实验室（Bell Labs）的维拉·波义耳(Willard S. Boyle）和乔治·史密斯（GeorgeE. Smith）所发明的。
当时贝尔实验室正在发展影像电话和半导体气泡式内存。将这两种新技术结合起来后，波义耳和史密斯得出一种装置，他们命名为“电荷‘气泡’元件”（Charge "Bubble" Devices）。
这种装置的特性就是它能沿着一片半导体的表面传递电荷，便尝试用来做为记忆装置，当时只能从暂存器用“注入”电荷的方式输入记忆。但随即发现光电效应能使此种元件表面产生电荷，而组成数位影像。
到了70年代，贝尔实验室的研究员已经能用简单的线性装置捕捉影像，CCD就此诞生。有几家公司接续此一发明，着手进行进一步的研究，包括仙童半导体（Fairchild Semiconductor）、美国无线电公司（RCA）和德州仪器（Texas Instruments）。
其中快捷半导体的产品领先上市，于1974年发表500单元的线性装置和100x100像素的平面装置。
CCD图像传感器可直接将光学信号转换为模拟电流信号，电流信号经过放大和模数转换，实现图像的获取、存储、传输、处理和复现。
拨号
首页
飞语
我的
反馈
