OLED寿命老化测试系统
简介
该系统是集成系统检测软件、多通道电源、硅光电二极管光电转换、工控机为一体的自动化检测系统,主要应用于OLED TEG/JIG加速老化寿命测试。
1、系统主要测试参数
绘制OLED寿命老化曲线
2、系统特点
- 可根据实际需要定制多通道测量(96通道、128通道)
- 可提供恒温恒湿测试环境,模拟真实使用情况
恒温恒湿箱参数:
箱体尺寸 |
具体尺寸待定 |
温度范围 |
-40℃~150℃,或-20℃~150℃,或0℃~+150℃多个温度范围(用户可根据实际测试需求选择) |
升温速率 |
2℃~4℃/min[从常温升到*高温、非线性空载) |
降温速率 |
0.7℃~1.0℃/min[从常温升到*高温、非线性空载) |
解析精度(显示) |
温度:±0.01℃ |
解析湿度(显示) |
±0.1%R.H |
温度波动度 |
±0.5℃ |
温度均匀度 |
±2.0℃ |
湿度范围 |
20%~98%R.H [25℃-85℃内] |
湿度波动度 |
±2.0%R.H. |
湿度偏差 |
±3% [湿度>75%RH 时] |
总功率/电压 |
5KW/380V |
控制功能 |
触控显示屏,温度设定可采用定值或程式编辑,可定时;标配USB接口,电脑只可读取温度数据,不能控制温度,需通过触控显示屏操作 |
3、测试原理