ASLI半导体芯片三箱式冷热冲击试验箱TS-80A

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广东东莞

广东艾思荔检测仪器有限公司

9年

指数：220

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产品参数

温馨提示：
本产品报价为参考价格，仅作支持网上展示用途。
产品具体规格、价格以我司销售报价为主。
半导体芯片三箱式冷热冲击试验箱箱体采用数控机床加工成型，造型美观大方，并采用无反作用把手，操作简便。箱体内胆采用进口不锈钢(SUS304)镜面板，箱体外胆采用A3钢板喷塑，增加了外观质感和洁净度。配有大型观测视窗附照明灯保持箱内明亮，且利用发热，内嵌式钢化玻璃，随时清晰的观测箱内状况。箱体左侧配直径50mm的测试孔，可供外接测试电源线或信号线使用。

半导体芯片三箱式冷热冲击试验箱规格与技术参数：
型号(CM)：TS-49　   　  TS-80　        　TS-150　　   TS-252
工作室尺寸：40*35*35　　 50*40*40　　     60*50*50　　  70*60*60
外型尺寸：140*180*140　　155*195*155　　  160*200*170　　170*210*175
功率(-40℃时)：4.5(KW)　　  5.5(KW)　     　8.0(KW)　　     9.0(KW)
温度范围：A:-20℃～150℃B:-40℃～150℃C:-60℃～150℃D:-70℃～150℃
波动/均匀度：≤±0.5℃/≤±2℃
升温速率：1.0～3.0℃/min
降温速率：0.7～1.0℃/min
半导体芯片三箱式冷热冲击试验箱控制系统：
控制器：进口LED数显P、I、D+S、S、R.微电脑集成控制器
精度范围：设定精度：温度±0.1℃，指示精度：温度±0.1℃，解析度：±0.1℃
传感器：铂金电阻PT100Ω/MV
加热系统：全独立系统，镍铬合金电加热式加热器
制冷系统：全封闭风冷单级压缩制冷方式/法国“泰康”/全封闭风冷复迭压缩制冷方式
循环系统：耐温低噪音空调型电机.多叶式离心风轮

半导体芯片三箱式冷热冲击试验箱使用材料
外箱材质: 碳素钢板.磷化静电喷塑处理/SUS304不锈钢雾面线条发纹处理
内箱材质: SUS304不锈钢镜面光板
保温材质: 聚胺脂硬质发泡、超细玻璃纤维绵
门框隔热：双层耐高低温老化硅橡胶门密封条
标准配置：多层加热触霜附照明玻璃视窗1套、试品架2个、测试引线孔(25、50、100mm)1个
安全保护：漏电、短路、超温、电机过热、压缩机超压、过载、过电流保护
定时功能：0.1～999.9(S、M、H)可调
电源电压：AC380V±10％50±0.5Hz三相五线制
使用环境温度：5℃～＋30℃≤85％R.H
注：1、“TS”为三箱式温度冲击试验箱型号
　　2、以上数据均在环境温度(QT)25℃.工作室无负载条件下测得
　　3、可根据用户的具体要求定做非标型“温度冲击箱”
　　本技术信息，如有变动恕不另行通知
半导体芯片三箱式冷热冲击试验箱控制器：
温度控制采用全进口触摸按键式仪表，操作设定简单。
资料及试验条件输入后，控制器具有锁定功能，避免人为触摸而改变温度值。
控制器具有P.I.D自动演算的功能，可将温度变化条件立即修正，使温度控制更为精确稳定。
可选配打印机。
半导体芯片三箱式冷热冲击试验箱冷冻及风路循环系统：
制冷机采用法国“泰康”全封闭压缩机。
冷冻系统采用单元或二元式低温回路系统设计。
采用多翼式送风机送风循环，避免任何死角，可使测试区域内温度分布均匀。
风路循环出风回风设计，风压风速均符合测试标准，并可使开门瞬间温度回稳时间快。
升温、降温、系统完全独立可提高效率，降低测试成本，增长寿命，减低故障率。
符合标准：符合GB/T2423.1-2001、GB/T2423.2-2001试验标准。

半导体芯片三箱式冷热冲击试验箱产品详细信息：
半导体芯片三箱式冷热冲击试验箱是航空、汽车、家电、科研等领域备的检测设备，用于测试和确定电工、电子及其他产品及材料进行高温、低温温度环境变化后的参数及性能。在一定程度上来说，是每一个企业采购项目中较大的一款设备，设计到数万元的金额，如果让您在采购的过程中，既能得到高性价比的设备，又能获得优良的服务呢？选择一家有诚信有实力的生产厂家，是不可少的关键环节。

品牌：	ASLI
型号：	TS-80A
加工定制：	是
类型：	冷热
冲击能量：	见详细说明 J
冲击速度：	见详细说明 m/s
外形尺寸：	500400400 mm
重量：	600 kg