普赛斯仪表自主研发的高精度台式数字源表、插卡式源表、窄脉冲电流源、VCSEL测试系统等，填补国产空白。主要应用于半导体器件的测试工艺，为客户提供模块化硬件、高效驱动程序和高效算法软件组合，帮助用户构建自定义解决方案。为半导体封测厂家提供相关测试仪表、测试平台，以及相关技术服务，满足行业对测试效率、测试精度，以及低成本的挑战。
武汉普赛斯将以服务客户为中心，追求可持续发展，精益求精，坚持不懈，努力将自身打造成行业*。
 

Ø   5寸 800*480触摸显示屏，全图形化操作

Ø   内置强大的功能软件，加速用户完成测试，如 LIV、 PIV

Ø   源及测量的准确度为 0.1%，分辨率 5数位

Ø   四象限工作（源和肼），源及测量范围：电流 100pA~1A，电压 0.3mV~300V

Ø   丰富的扫描模式，支持线性扫描、指数扫描及用户自定义扫描

Ø   支持 USB存储，一键导出测试报告

Ø   支持多种通讯方式， RS-232、 GPIB及以太网

l   分立半导体器件特性测试，电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、 PIN 二极管、 BJT 三极管、 MOSFET 、 SIC 、 GaN 等器件；

l   能量与效率特性测试， LED/AMOLED 、太阳能电池、电池、 DC-DC 转换器等

l   传感器特性测试，电阻率、霍尔效应等

l   有机材料特性测试，电子墨水、印刷电子技术等

l   纳米材料特性测试，石墨烯、纳米线等