手持式X射线荧光分析仪FAS 2980 Plus
无论是在现场还是在车间，Niton XL2 Plus 都能使您随时应对 挑战的工业环境。操作人员可检测各种材料，满足不同分 析需求。识别纯金属和合金，检测杂质元素或获取地球化学数 据 - Niton XL2 Plus 随时应对各种分析挑战。
Niton XL2 Plus 旨在提供快速分析和低检测限，确保获得可靠结果。Niton XL2 Plus 通过专有2W X射线管、动态电流调节和新一代硅漂移探测器为每次测量提供*佳灵敏度。Niton XL2 Plus 通过智能基本参数法（FP）校正样品基质效应以获 得准确结果。
分析应用

●验证生产中使用的金属和合金

●在质量保证检测中正确鉴别材料

●在废料回收操作中进行自动分拣

●测量单个元件层的涂层厚度

●金银和珠宝的贵金属分析

●矿石贸易和等级控制的地球化学分析

●污染土壤的现场重金属筛查

●工业设施漆层检验中的铅检测

●消费品中的有害物质筛
技术优势
FAS 2980 Plus 旨在提供快速分析和低检测限，确保获得可靠结果。FAS 2980 Plus 通过专有2W X射线管动态电流调节和新一代硅漂移探测器为每次测量提供优秀的灵敏度。FAS 2980 Plus 通过智能基本参数法（FP）校正样品基质效应以获 得准确结果
手持式X射线荧光分析仪FAS 2980 Plus产品性能