Bristol Instruments提供了一系列测厚仪产品，可方便地测量厚度，并具有极高的测量精度以及重复性，以适用于大部分的应用需求。更重要的是，这些产品采用了一种极为有效的技术，即使用非接触式光学探针进行无损检测，同时这种技术还可以同时测量多层膜的厚度。
 
产品特点：
·可测量硬材料和软材料，并且不会造成损坏或变形
·用于精确定位测量位置的可见光束
·同时测量多达31层
·使用内置的固有长度标准进行连续校准
·测量置信水平≥99.7%
·可追溯至NIST标准
·测量频率高达20赫兹
·使用USB或以太网进行PC通讯
·提供基于Windows的光学测量软件，用于设置测量参数和输出测量数据
·使用LabVIEW、.NET或自定义编程进行自动数据报告，无需专用PC
 
软件测量界面： 应用领域：
光学元件和透镜组件
可测量单个镜片以及镜头组包括空气间隔
隐形眼镜和人工晶状体
测量中心厚度、矢高和群折射率
导管窥镜
可同时测量壁厚、内径和外径，管壁厚度、管颈和管锥的壁厚
LCD, LED, OLED 和 AMOLED 显示屏
可测量总厚度和各层厚度，包括LOCA（液体光学透明粘合剂）层
半导体
硅/砷化镓晶片
玻璃抛光
测量化学腐蚀前后的厚度或抛光工艺，使玻璃板更薄、更轻。