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X荧光镀层厚度分析仪
111.00
上海闵行区
关河仪器设备(上海)有限公司
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采用非真空样品腔; 
*用于金属电镀镀层分析;
可同时分析镀层中的合金成分比列。

 

 

应用领域:

金属电镀镀层分析领域
 

技术指标:

>多镀层,1~6层
>测试精度:0.01 um

>多次测量重复性误差<0.1%

>元素分析范围从铝(Al)到铀(U)

>测量时间:10-60秒

>Si-PIN探测器,能量分辨率为125±5电子伏特

>微焦X射线管50KV/1mA,钨靶,焦斑尺寸 75um

>7个准直器及6个滤光片自动切换

XYZ三维移动平台,荷载为5公斤

> 高清CCD摄像头,精确监控位置

>多变量非线性去卷积曲线拟合>高性能FP/MLSQ分析

>平台移动范围 300(X)x300(Y)x25 (Z)mm
 

图谱界面:

>软件支持无标样分析

>超大分析平台和样品腔

>集成了镀层界面和合金成分分析界面

>采用先进的多种光谱拟合分析处理技术

>分析精度可达到0.01um


 

品牌:关河仪器
加工定制:
型号:iEDX-150WT
类型:多元素
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