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台式XRF光谱仪丨无卤素合规性筛查丨薄膜分析EA1280
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江苏宿迁宿城区
江苏巨立仪器有限公司
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图文详情
产品参数
产品描述
EA1280 XRF分析仪专为RoHS设计,提供快速、准确的有害物质测量,确保环保法规符合性。适用于RoHS筛查、无卤素测试、薄膜分析等,具备高性能SDD检测器和灵活的样品舱设计,支持多种样品测量,易于操作且运行成本低,是满足现代生产需求的理想工具。
应用领域
快速
RoHS/ELV合规性筛查
:能快速检测电子电气设备及其原材料中铅、汞、镉、六价铬、多溴联苯及其醚等有害物质的含量,帮助企业确保产品符合
RoHS和ELV等相关环保指令的要求,可广泛应用于电子电器制造、汽车制造等行业。
无卤素合规性筛查
:可对产品中的氯、溴等卤素元素进行检测,助力企业满足无卤素标准要求,常用于塑料、橡胶、印刷电路板等材料的检测。
薄膜分析
:能分析薄膜材料的元素组成和厚度,例如金属薄膜、镀膜玻璃等,在电子、光学、材料科学等领域有广泛应用。
快速材料识别
:通过对材料的元素分析,快速识别材料的种类和成分,可用于原材料检验、废料回收等场景,帮助企业快速判断材料是否符合生产要求,提高生产效率。
多用途材料分析
:适用于各种材料的元素分析,包括金属、合金、塑料、陶瓷等,为材料研发、质量控制、失效分析等提供重要的元素组成信息。
仪器功能
有害物质检测功能
:专为
RoHS(有害物质限制)分析设计,可快速检测电子电气设备及其原材料中铅、汞、镉、六价铬、多溴联苯及其醚等有害物质的含量,也能检测RoHS拓展元素Sb、Sn、Cl,且较以往机型检测性能有所增强。
多元素分析功能
:测量范围为
13Al~92U,可对多种元素进行定性和定量分析,适用于 RoHS 筛查和通用分析,如无卤素合规性筛查中的氯、溴等卤素元素分析,以及薄膜分析、快速材料识别、多用途材料分析中的各种元素检测。
自动测量功能
:样品测量可选择单一位置或
12位置转盘,实现自动采样,能对多个样品进行自动连续测量,提高检测效率。
样品观察功能
:配备彩色
CCD相机,可用于观察样品,便于准确选择测量位置,以及查看样品的外观和状态。
灵活校准功能
:能根据新的
RoHS标准和法规要求进行灵活校准,确保仪器的测量准确性和合规性。
仪器特点
操作简便
:仪器配备易用软件,界面直观,样品装载简单,结果以易于理解的格式呈现,操作人员经过简单培训即可使用。
测量快速
:具有较高的灵敏度,可实现快速测量,如常规
RoHS筛查中,塑料样品测量时间小于35秒,黄铜样品测量时间小于170秒,能有效提高检测效率,满足批量生产企业的需求。
无损分析
:采用
X射线荧光分析技术,对样品进行非接触、无损伤分析,不会破坏样品的结构和性能,可对珍贵或易损坏的样品进行检测。
大样品舱设计
:样品舱尺寸为
304mm(宽)×304mm(深)×110mm(高),可容纳较大尺寸的样品,如塑料 molded items 或 laptop computers 等,无需将样品拆分,方便对整体样品进行分析。
运行成本低
:几乎不需要耗材,在空气或者氮气下实现优化的探测技术,减少了对昂贵的氦气的需求,降低了仪器的运行成本。
结果可靠
:采用高性能
SDD(硅漂移检测器),具有中国国家标准(GB标准)建议要求的检测器分辨率,工作效率和分析准确度更高,能为企业提供准确可靠的检测结果。
视听测量指示器
:具备视听测量指示器,可在测量过程中通过声音和灯光提示操作人员,方便了解测量状态和结果
。
技术指标和基本参数
型号
EA1280
应用场景
台式
/落地式
行业专用类型
通用
分析含量范围
1ppm-99.99%
探测器
高性能
SDD
仪器种类
常规型
元素分析范围
AI(13)~U(92)
能量分辨率
小于
150eV
型号:
EA1280
加工定制:
是
应用场景:
台式/落地式
探测器:
高性能SDD
行业专用类型:
通用
元素分析范围:
AI(13)~U(92)
分析含量范围:
1ppm-99.99%
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