Micromanipulator探针台（probe stations）是市场上用于半导体行业的是全面的探针台之一，其广泛的选择可以满足大多数用户晶圆测试应用的需求。目前有多种型号可选，包括高性能的，半自动的，通用功能的和经济功能的。此外，Micromanipulator公司还提供必需的消耗品和附件。

产品型号： 450PM 手动探针台，8060手动探针台，4060手动探针台，P300J电动手动探针台，P300A 半自动探针台，2210-LS 应用板探针台，VERSA 模块化探针系统，P200L半自动探针台，P300L半自动探针台

P300J电动手动探针台:
-300mm手动晶圆探针
-操纵手柄控制
-独家“微触控”电动控制
-可配置用于直流、射频、微波和高功率应用
-55℃至300℃可配置

P300A半自动探针台:
-先进的300毫米半自动晶圆探针
-包含NETPROBE-7控制软件
-来自主流测试公司的驱动程序，包括Keysight, Keithley和LabVIEW
-可配置用于直流、射频、微波和高功率应用
-55℃至300℃可配置

P200L半自动探针台：
-200mm半自动晶圆探针
-可选NETPROBE-7控制软件，包含晶圆图、集成视频、θ校准、子芯片和模式识别
-驱动程序源于主流的测试公司，包括Keysight, Keithley和LabVIEW
-可配置用于直流、射频、微波和高功率应用
-65℃至400℃可配置

P300L半自动探针台：
-300mm半自动晶圆探针
-包含NETPROBE-7控制软件（晶圆图、分模、视频、θ校准、模式识别）
-来自Keysight, Keithley和LabVIEW等公司的主流测试人员的驱动程序
-可配置用于直流、射频、微波和高功率应用
-55℃至300℃可配置

2210-LS 应用板探针台：
-通用的探针台
-探测无封装的集成电路、晶圆和大板，都在温度下
-40℃至125℃可配置
-集成式隔振平台
-定制-例如：双面探测和磁刺激
-获得专利

VERSA 模块化探针系统：
-基于通用的探测系统
-定制散热选项-热&冷（无霜）
-集成式隔振平台
-模块化设计允许所有设备测试，例如：背面和双面。
-高功率，直流，高频，毫米波。
-高速信号采集。
-在所有温度下测试晶片、板、片、包装件和单个模具。
-用作光学检测平台。

450PM 手动探针台：
-可升级的手动150mm-200mm晶圆探针
-可配置用于直流、射频、微波和高功率应用
-环境温度可达400℃
-可根据客户应用而升级
 
8060手动探针台：
-高性能的手动150mm-200mm晶圆探针
-亚微米定位和真正的单点接地
-单手压板和显微镜快速升降
-可配置用于直流、射频、微波和高功率应用
-65℃至400℃可配置

4060手动探针台：
-高效手动150mm-200mm晶圆探针
-单手台板升降，可有效更换样品
-显微镜升降锁定
-可配置用于直流、射频、微波和高功率应用
-65℃至400℃可配置